BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀廠家

簡要描述：Zeta電位儀廠家供應的BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-07-26
訪問量： 26879

產(chǎn)品分類

Product Category

詳細介紹

Zeta電位儀廠家供應的BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質(zhì)量分析與控制 BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位儀廠家

基本性能指標

粒徑檢測

原理原理	動態(tài)光散射技術(shù)
粒徑范圍	0.3 nm – 15 μm
樣品量	3 μL – 1 mL
檢測角度	90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

原理原理	相位分析光散射技術(shù)
檢測角度	12°
Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	＞±20 μm.cm/V.s
電導率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	2 nm – 120 μm

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

測試能力	均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

折光率和粘度測試

粘度范圍

0.01 cp – 100 cp

折光率范圍

1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C ，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器	最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動